名稱：顯微PL光譜

型號：ProSp-Micro40-VIS

顯微PL（Photoluminescence，光致發(fā)光）光譜分析是一種重要的光學檢測技術，廣泛應用于材料科學、半導體物理、生物醫(yī)學及環(huán)境監(jiān)測等領域。該技術通過測量物質(zhì)在光的激發(fā)下所發(fā)出的熒光或磷光特性，揭示材料的內(nèi)部結構和電子狀態(tài)信息。PL光譜測量技術不僅能夠提供有關材料的結構、成分及環(huán)境原子排列的信息，而且作為一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關領域被廣泛應用。

ProSp-Micro40-VIS系列顯微PL光譜儀，深度融合顯微鏡、光譜儀和激發(fā)光源，在微米尺度內(nèi)測量樣品的熒光PL光譜信號。儀器可以測量固體、粉末和液體樣品，儀器配置有二維掃描臺，實現(xiàn)Mapping測量。

主要特點：

Ø                      光譜范圍寬，根據(jù)不同配置，光譜范圍可以覆蓋230-2400nm；

Ø                      高性價比，在合理的價格下，采用高性能的QEPRO光譜儀，大幅度提升儀器性能和可靠性；

Ø                      模塊化設計，可以選配不同激發(fā)波長模塊，合理利用資源和資金；

Ø                      高空間分辨率，在100X物鏡下，采集區(qū)域小于2um；

Ø                      可以測量固體、粉末和液體樣品；        

應用領域：

Ø                      半導體材料研究:在半導體材料中，PL光譜分析可以用于評估材料的晶體質(zhì)量和摻雜水平；

Ø                      生物醫(yī)學應用:在生物醫(yī)學中，PL光譜可以作為生物標記物的檢測方法之一；

Ø                      環(huán)境監(jiān)測:在環(huán)境監(jiān)測中，PL光譜可以用于檢測水體中的污染物等；

Ø                      LED發(fā)光材料研究:PL光譜測量系統(tǒng)典型應用于LED發(fā)光材料的研究。