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ProSp-Micro40-PRS系列顯微偏振拉曼光譜儀，深度融合顯微鏡和光譜儀，在微米范圍內測量拉曼光譜信號。
顯微拉曼光譜儀運用共聚焦技術，將激光束高度聚焦于微小的樣品區(qū)域，實現(xiàn)了對樣品表面的微區(qū)分析。高倍率顯微鏡帶來的高空間分辨率，讓研究人員能夠敏銳捕捉到樣品微觀結構與組成的細微變化。例如，在半導體材料研究中，能夠精準分辨納米級別的晶體缺陷與雜質分布，為提升半導體性能提供關鍵依據(jù)。?
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